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内容紹介

X線反射率法の専門的入門書。X線反射率の基礎から、測定装置と測定方法、データ解析法、微小領域分析およびイメージングへの展開、X線反射率法の応用、併用すると有意義な関連技術、中性子の利用までを解説する。

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ﾀｲﾄﾙｺｰﾄﾞ

1000001463447

書誌種別

図書（日本語）

著者名

桜井 健次／編著

著者名ヨミ

サクライ,ケンジ

出版者

講談社

出版年月

2018.6

ページ数

14,369p

大きさ

21cm

ISBN

4-06-153296-0

分類記号

549.8

書名

X線反射率法入門　　　　　

書名ヨミ

エックスセン ハンシャリツホウ ニュウモン

著者紹介

東京大学大学院工学系研究科博士課程修了。工学博士。国立研究開発法人物質・材料研究機構先端材料解析研究拠点上席研究員。筑波大学大学院教授を兼務。

件名1

薄膜

件名2

エックス線

件名3

非破壊検査